鼎陽新品七位半高精度數(shù)字電壓表與背面板輸入型六位半萬用表

鼎陽發(fā)布兩款數(shù)字萬用表新品，分別為七位半高精度數(shù)字電壓表SDM4075A-DV，以及具備背面板輸入功能的六位半數(shù)字萬用表SDM4065A-RE。兩款產(chǎn)品均針對(duì)細(xì)分測(cè)試場(chǎng)景進(jìn)行深度功能優(yōu)化，覆蓋**科研、精密工業(yè)制造、半導(dǎo)體與新能源測(cè)試等多領(lǐng)域需求，為自動(dòng)化系統(tǒng)集成、高精度電壓測(cè)試、工業(yè)產(chǎn)線批量測(cè)試等場(chǎng)景提供了更適配的產(chǎn)品選擇與測(cè)試解決方案。

SDM4075A-DV
此次推出的SDM4075A-DV七位半高精度數(shù)字電壓表，專為以電壓測(cè)量為核心需求的應(yīng)用場(chǎng)景打造。SDM4075A-DV聚焦直流電壓測(cè)量功能，簡(jiǎn)化了操作流程，可有效規(guī)避使用復(fù)雜功能導(dǎo)致的誤操作風(fēng)險(xiǎn)，提升產(chǎn)線測(cè)試效率。七位半分辨率下可精準(zhǔn)捕捉微弱的電壓信號(hào)，*大限度降低測(cè)量回路對(duì)被測(cè)電路的影響。產(chǎn)品可適用精密半導(dǎo)體器件測(cè)試、電源與電力電子設(shè)備性能驗(yàn)證、工業(yè)長(zhǎng)期在線監(jiān)測(cè)等對(duì)電壓測(cè)量有高要求的應(yīng)用場(chǎng)景。在保障高精度測(cè)量能力的同時(shí)，還能擁有更優(yōu)的采購(gòu)成本優(yōu)勢(shì)，減少項(xiàng)目整體硬件的投入。

背面板測(cè)量輸入端子   SDM4065A-RE
同步推出的SDM4065A-RE萬用表，在原有SDM4065A系列萬用表的測(cè)量性能與功能基礎(chǔ)上，新增背面板測(cè)量輸入端子設(shè)計(jì)。工業(yè)機(jī)柜的通用標(biāo)準(zhǔn)化布線規(guī)則為前操作、后布線，該設(shè)計(jì)可適配機(jī)架式安裝與ATE自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)的集成需求，解決了傳統(tǒng)僅前面板接線在機(jī)柜集成場(chǎng)景中布線不便等問題。用戶可根據(jù)使用場(chǎng)景靈活選擇前面板或背面板接線：實(shí)驗(yàn)室測(cè)試場(chǎng)景下，可通過前面板完成便捷操作與讀數(shù)；自動(dòng)化系統(tǒng)集成場(chǎng)景下，可通過背面板規(guī)范布線，提升測(cè)試系統(tǒng)整潔度。SDM4065A-RE保留了系列產(chǎn)品原有的高速采樣能力，標(biāo)配 LAN、USB等接口，兼容SCPI程控指令，可適配產(chǎn)線批量測(cè)試、工業(yè)測(cè)控、常規(guī)科研實(shí)驗(yàn)等多類應(yīng)用場(chǎng)景。

高速精準(zhǔn)采樣
SDM4075A-DV和SDM4065A-RE可提供高達(dá)50,000個(gè)讀數(shù)/秒的采樣速度，能夠在不同測(cè)試需求下提供靈活的測(cè)量選擇。無論是電路性能測(cè)試，還是信號(hào)變化監(jiān)測(cè)都具有**的優(yōu)勢(shì)。

高效數(shù)據(jù)記錄
產(chǎn)品均配備高效的記錄儀功能，支持設(shè)置記錄間隔從0.1秒到3600秒，并可在內(nèi)存中存儲(chǔ)多達(dá)200萬個(gè)數(shù)據(jù)點(diǎn)，或?qū)?shù)據(jù)保存到文件中，*多可記錄360萬個(gè)數(shù)據(jù)點(diǎn)。無論是短期監(jiān)測(cè)還是長(zhǎng)時(shí)間數(shù)據(jù)記錄，100小時(shí)的持續(xù)記錄能力能確保不漏掉重要的測(cè)試數(shù)據(jù)，極其適配需要采集數(shù)據(jù)量較大的測(cè)量需求。

**波形分析
產(chǎn)品集成了高性能數(shù)字化儀功能，SDM4075A-DV*高2 MSa/s的采樣率，SDM4065A-RE*高50 kSa/s的采樣率，確保能夠快速捕捉到信號(hào)的細(xì)微變化。可提供實(shí)時(shí)可靠的波形分析支持，無論是快速變化的波形還是精細(xì)的噪聲分析，數(shù)字化儀功能都能提供**的測(cè)量結(jié)果。適用于測(cè)試與調(diào)試快速變化信號(hào)的場(chǎng)景，如電子設(shè)備的性能評(píng)估、信號(hào)干擾分析和音頻測(cè)試等。